用于检查硅片的表面光洁度-日本horiba高光泽度检查仪IG-410

发布时间：2021-01-15　点击量：2050

用于检查硅片的表面光洁度-日本horiba高光泽度检查仪IG-410

总览

高光泽度光泽度检查仪IG-410是一种方便使用的类型，可方便地进行现场工作，并且只需将与显示单元分开的测量单元应用于被摄体即可进行测量。使用近红外线作为光源，并测量了1000的光泽度（镜面反射率100％）。

无需预热。对于需要高表面光泽度的产品（例如用于汽车前灯的照明反光器，用于复印机的反光器和硅片）的质量控制而言，它是理想的选择。

甚至在金属等高光泽区域
也可以量化“模糊度” IG-410可以测量金属等高光泽区域，是光泽度检查仪IG系列的新产品。测量范围是0到100，是传统型号的10倍。也可以测量镜面样品。
紧凑轻巧的设计，易于现场测量
重量仅为350g，易于携带。由于是一键式操作，因此可以将其带到生产现场以方便测量。
由于将LED用作光源，因此无需担心光源的寿命。
可以通过
在2个范围之间切换来测量低光泽度，可以在0到100和0到100的2个范围之间切换。每个范围都带有自己的校准板。
IG-410不仅可以测量高光泽度金属，还可以测量低光泽度区域，例如涂在金属板上的样品。

*由于光泽度是通过光的反射来测量的，因此测量点必须平坦。

光学系统	入射角60°-接收角60°
测量面积	3 x 6毫米椭圆
光源	LED（波长890nm）
受光部	SPD（硅光电二极管）
测量范围（显示分辨率）	100范围： 0.00至10.0（显示分辨率0.1）1000范围：0至100（显示分辨率1）
重复性	满量程的±1％
电源供应	AA干电池x 4
电池寿命	200小时以上（使用碱性干电池）
工作温度极限	10-40℃
尺寸	机身：75W x 34D x 140H mm 传感器：30W x 45D x 88H mm
大众	约350g（带内置电池）
其他功能	自动校准，自动关机范围切换显示（100/1000）超范围显示，电池电量显示测量值保持校准值设置
配件	用于100和1000量程的校准标准板